Наши издания
Экспериментальное исследование устойчивости электронных устройств в системе NI ELVISИ. В. Герасимов, К. Г. Жуков, А. И. Ларистов, В. А. Михалков, Ю. М. Соколов. Содержат описания лабораторных работ по устойчивости и генерации электронных устройств с использованием учебной лабораторной станции виртуальных приборов NI ELVIS. Предназначены для студентов направления 230100 «Информатика и вычислительная техника», обучающихся по дисциплине «Схемотехника». |
УДК 621.38 |