Наши издания

Экспериментальное исследование устойчивости электронных устройств в системе NI ELVIS

И. В. Герасимов, К. Г. Жуков, А. И. Ларистов, В. А. Михалков, Ю. М. Соколов.

Содержат описания лабораторных работ по устойчивости и генерации электронных устройств с использованием учебной лабораторной станции виртуальных приборов NI ELVIS.

Предназначены для студентов направления 230100 «Информатика и вычислительная техника», обучающихся по дисциплине «Схемотехника».

УДК 621.38