Учебно-методические пособия

Биполярный транзистор

Cост.: С. М. Мовнин, А. Е. Синёв

Биполярный транзистор: методические указания по курсовому проектированию по дисциплине «Твердотельная электроника». СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 28 с.

Содержат краткие сведения по расчету электрофизических и геометрических параметров структуры низкочастотного биполярного транзистора.

Предназначены для студентов специальности 210105.65 «Электронные приборы и устройства» и направления 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Могут быть также использованы при проведении практических занятий.

Правоведение

Сост.: И. В. Узлова

Правоведение: методические указания к практическим занятиям. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с.

Содержат темы, вопросы, литературу, методические указания и материалы к практическим занятиям по дисциплине «Правоведение». Самостоятельную работу над каждой из предлагаемых тем рекомендуется дополнить материалами лекций, учебников, учебных пособий, нормативно-правовых актов. Список рекомендуемой литературы прилагается.

Предназначены для студентов высших учебных заведений, обучающихся по неюридическим специальностям.

Методы магнитного и электромагнитного контроля

Сост.: Р. С. Коновалов, С. И. Коновалов

Методы магнитного и электромагнитного контроля: Методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. — 36 с.

Содержат общие сведения по магнитному и электромагнитному (вихретоковому) неразрушающему контролю, назначению, устройству и принципу действия магнитных и вихретоковых дефектоскопов, а также описание методик проведения замеров толщин тонкостенных ферромагнитных объектов и поиска поверхностных дефектов в токопроводящих объектах контроля.

Предназначены для студентов, обучающихся по направлению 200100.68 «Приборостроение» в рамках магистерской программы 200141.68 «Приборы и методы контроля качества и диагностики».

Интеллектуальные измерительные технологии и средства измерений

Сост.: Э. И. Цветков, А. А. Минина

Интеллектуальные измерительные технологии и средства измерений: Методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с.

Представлены сведения для выполнения лабораторных работ по курсам «Интеллектуальные измерительные технологии» и «Интеллектуальные средства измерений». Практический курс состоит из семи лабораторных работ.

Предназначены для магистрантов, обучающихся по направлению 551500 «Приборостроение», специализация 551506 «Локальные измерительно-вычислительные системы» и «Адаптивные измерительно-вычислительные системы», а также могут быть использованы при реализации программ дополнительного образования.

Культурология

Сост.: В. В. Калашников, О. В. Андреева, И. Ю. Ершова

Культурология: методические указания к семинарским занятиям. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 40 с.

Содержат темы, литературу, методические указания и материалы к семинарским занятиям по курсу «Культурология». Составлены на основе учебных пособий, подготовленных кафедрой истории культуры, государства и права СПбГЭТУ «ЛЭТИ». Самостоятельную работу над каждой из предлагаемых тем рекомендуется дополнить материалами лекций, учебников, учебных пособий и справочных изданий. Список основной литературы прилагается.

Предназначены для студентов гуманитарного факультета.

Лазерные технологии и метрология

Сост. Е. А. Смирнов

Лазерные технологии и метрология: методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с.

Содержат описания лабораторных работ по исследованию характеристик, методов и устройств регистрации лазерного излучения, управления параметрами лазеров, используемых в установках лазерной технологии и метрологии.

Предназначены для студентов дневного отделения, обучающихся по образовательной программе подготовки бакалавров по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника».

Основы интегрального исчисления

Сост.: Е. З. Боревич, Е. Е. Жукова, Е. Ф. Лысенко, В. Л. Трегуб, С. И. Челкак

Основы интегрального исчисления (функции одной вещественной переменной): Методические указания. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 56 с.

Содержат описание основных приемов вычисления неопределенных, определенных и несобственных интегралов.

Предназначены для студентов технических факультетов, обучающихся по всем направлениям и специальностям.

Разработка устройства технологического контроля с применением микроконтроллера

Сост.: А. А. Ухов, Д. К. Кострин, В. А. Герасимов

Разработка устройства технологического контроля с применением микроконтроллера: Методические указания к междисциплинарному проекту. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с.

Содержат правила выполнения и оформления междисциплинарного проекта. Рассмотрены общие вопросы конструирования устройств технологического контроля, а именно программирование управляющего микроконтроллера, разработка электрической принципиальной схемы прибора и разводка печатной платы.

Предназначены для подготовки магистров по программе 210153.68 «Электронные приборы и устройства».

Рентгеноспектральная аппаратура

Сост.: А. Ю. Грязнов, Н. Н. Потрахов, В. Б. Бессонов, К. К. Жамова

Рентгеноспектральная аппаратура: методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 31 с.

Содержат описания лабораторных работ, в которых исследуются различные методы проведения рентгеноспектрального анализа вещества. Приведено описание современной аппаратуры и способов ее применения.

Предназначены для студентов специальности 200300, а также могут быть полезны инженерно-техническим работникам этой области знаний.

Процессы микро- и нанотехнологий

Сост.: П. Ю. Белявский, С. Ф. Карманенко, А. А. Никитин, А. А. Семенов, А. В. Тумаркин

Процессы микро- и нанотехнологий: Методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 67 с.

Рассмотрены основные этапы выполнения лабораторных работ по курсу «Процессы микро- и нанотехнологий». Приводится краткое описание физических моделей, лежащих в основе различных технологических режимов напыления и осаждения металлических и диэлектрических пленок, а так же процессов ионного и химического травления.

Приведена методика расчета технологических процессов режимов осаждения пленок, на основе которых составляются рекомендации для реальных технологических процессов. Содержатся необходимые справочные сведения и характеристики элементов для выполнения расчетов.

< назад 1234567891011121314151617181920212223 далее >