Наши издания
Диагностика материалов методами сканирующей зондовой микроскопииСодержит систематизированные и оформленные в виде лабораторных работ оригинальные методики сканирующей зондовой микроскопии, разработанные на кафедре микро- и наноэлектроники СПбГЭТУ «ЛЭТИ» и в лаборатории оптики поверхности ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН. Предназначено магистрантам направления 210100.68 «Электроника и наноэлектроника», магистерская программа 210161.68 «Нанотехнология и диагностика» (при изучении дисциплин: «Материаловедение микро- и наносистем», «Наноматериалы», «Зондовые и пучковые нанотехнологии», «Технология пористых материалов», «Нанотехнологии в альтернативной энергетике»), а также студентам бакалавриата направления 210100.62 «Электроника и наноэлектроника» и 222900.62 «Нанотехнологии и микро- системная техника». |
ISBN 978-5-7629-1243-3 УДК 620.187.539.25+621.15.5(075) ББК В 338.4я7 |