Теория информации и метрология. Погрешности и неопределенности в инженерии и технологии

Окрепилов М. В., Пронин А. Н., Тупик В. А.

Курс содержит сведения о погрешности и неопределенности измерений, об энтропии и измерительной информации. Приведены основные подходы к оценке результатов измерений. Показано различие в процессах измерения и калибровки. Рассмотренные вопросы применимы не только к процедуре измерения, но и помогают перейти к изучению новых вопросов, связанных с прослеживаемостью, сопоставимостью и совместимостью результатов измерений, применением концепции неопределенности измерений, что непосредственно связано с таким понятием, как компетентность метрологической лаборатории.

Представлены особенности метрологических аспектов при переходе в область наноразмерных объектов, характерных для перспективных технологий, сведения об основных проблемах, связанных с метрологическим обеспечением нанотехнологий. Представлены основные сведения об интегральных и индивидуальных методах получения метрологической информации о нанообъектах различного вида.

Может быть использовано для реализации основных образовательных программ магистратуры по направлениям подготовки 11.04.03 «Конструирование и технология электронных средств», 12.04.01 «Приборостроение» и студентов других технических специальностей, изучающих метрологию в составе отдельных дисциплин, а также при переподготовке и повышении квалификации кадров в области метрологии и метрологического обеспечения.