Учебно-методическая литература
.jpg) |
Биполярный транзисторCост.: С. М. Мовнин, А. Е. Синёв Биполярный транзистор: методические указания по курсовому проектированию по дисциплине «Твердотельная электроника». СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 28 с. Содержат краткие сведения по расчету электрофизических и геометрических параметров структуры низкочастотного биполярного транзистора. Предназначены для студентов специальности 210105.65 «Электронные приборы и устройства» и направления 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Могут быть также использованы при проведении практических занятий. |
|
ПравоведениеСост.: И. В. Узлова Правоведение: методические указания к практическим занятиям. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с. Содержат темы, вопросы, литературу, методические указания и материалы к практическим занятиям по дисциплине «Правоведение». Самостоятельную работу над каждой из предлагаемых тем рекомендуется дополнить материалами лекций, учебников, учебных пособий, нормативно-правовых актов. Список рекомендуемой литературы прилагается. Предназначены для студентов высших учебных заведений, обучающихся по неюридическим специальностям. |
|
Методы магнитного и электромагнитного контроляСост.: Р. С. Коновалов, С. И. Коновалов Методы магнитного и электромагнитного контроля: Методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. — 36 с. Содержат общие сведения по магнитному и электромагнитному (вихретоковому) неразрушающему контролю, назначению, устройству и принципу действия магнитных и вихретоковых дефектоскопов, а также описание методик проведения замеров толщин тонкостенных ферромагнитных объектов и поиска поверхностных дефектов в токопроводящих объектах контроля. Предназначены для студентов, обучающихся по направлению 200100.68 «Приборостроение» в рамках магистерской программы 200141.68 «Приборы и методы контроля качества и диагностики». |
|
Интеллектуальные измерительные технологии и средства измеренийСост.: Э. И. Цветков, А. А. Минина Интеллектуальные измерительные технологии и средства измерений: Методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с. Представлены сведения для выполнения лабораторных работ по курсам «Интеллектуальные измерительные технологии» и «Интеллектуальные средства измерений». Практический курс состоит из семи лабораторных работ. Предназначены для магистрантов, обучающихся по направлению 551500 «Приборостроение», специализация 551506 «Локальные измерительно-вычислительные системы» и «Адаптивные измерительно-вычислительные системы», а также могут быть использованы при реализации программ дополнительного образования. |
|
КультурологияСост.: В. В. Калашников, О. В. Андреева, И. Ю. Ершова Культурология: методические указания к семинарским занятиям. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 40 с. Содержат темы, литературу, методические указания и материалы к семинарским занятиям по курсу «Культурология». Составлены на основе учебных пособий, подготовленных кафедрой истории культуры, государства и права СПбГЭТУ «ЛЭТИ». Самостоятельную работу над каждой из предлагаемых тем рекомендуется дополнить материалами лекций, учебников, учебных пособий и справочных изданий. Список основной литературы прилагается. Предназначены для студентов гуманитарного факультета. |
|
Лазерные технологии и метрологияСост. Е. А. Смирнов Лазерные технологии и метрология: методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с. Содержат описания лабораторных работ по исследованию характеристик, методов и устройств регистрации лазерного излучения, управления параметрами лазеров, используемых в установках лазерной технологии и метрологии. Предназначены для студентов дневного отделения, обучающихся по образовательной программе подготовки бакалавров по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника». |
|
Основы интегрального исчисленияСост.: Е. З. Боревич, Е. Е. Жукова, Е. Ф. Лысенко, В. Л. Трегуб, С. И. Челкак Основы интегрального исчисления (функции одной вещественной переменной): Методические указания. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 56 с. Содержат описание основных приемов вычисления неопределенных, определенных и несобственных интегралов. Предназначены для студентов технических факультетов, обучающихся по всем направлениям и специальностям. |
|
Разработка устройства технологического контроля с применением микроконтроллераСост.: А. А. Ухов, Д. К. Кострин, В. А. Герасимов Разработка устройства технологического контроля с применением микроконтроллера: Методические указания к междисциплинарному проекту. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 32 с. Содержат правила выполнения и оформления междисциплинарного проекта. Рассмотрены общие вопросы конструирования устройств технологического контроля, а именно программирование управляющего микроконтроллера, разработка электрической принципиальной схемы прибора и разводка печатной платы. Предназначены для подготовки магистров по программе 210153.68 «Электронные приборы и устройства». |
|
Рентгеноспектральная аппаратураСост.: А. Ю. Грязнов, Н. Н. Потрахов, В. Б. Бессонов, К. К. Жамова Рентгеноспектральная аппаратура: методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 31 с. Содержат описания лабораторных работ, в которых исследуются различные методы проведения рентгеноспектрального анализа вещества. Приведено описание современной аппаратуры и способов ее применения. Предназначены для студентов специальности 200300, а также могут быть полезны инженерно-техническим работникам этой области знаний. |
|
Процессы микро- и нанотехнологийСост.: П. Ю. Белявский, С. Ф. Карманенко, А. А. Никитин, А. А. Семенов, А. В. Тумаркин Процессы микро- и нанотехнологий: Методические указания к лабораторным работам. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2013. 67 с. Рассмотрены основные этапы выполнения лабораторных работ по курсу «Процессы микро- и нанотехнологий». Приводится краткое описание физических моделей, лежащих в основе различных технологических режимов напыления и осаждения металлических и диэлектрических пленок, а так же процессов ионного и химического травления. Приведена методика расчета технологических процессов режимов осаждения пленок, на основе которых составляются рекомендации для реальных технологических процессов. Содержатся необходимые справочные сведения и характеристики элементов для выполнения расчетов. |
< назад 123456789101112131415161718192021222324252627282930313233343536373839404142434445464748495051525354555657585960616263646566676869 далее >