Учебно-методическая литература
 |
Методы диагностики эпитаксиальных структур: рентгеновский микроанализ, рентгеновская дифрактометрия, фотолюминесценцияГагис Г. С., Васильев В. И. Методы диагностики эпитаксиальных структур: рентгеновский микроанализ, рентгеновская дифрактометрия, фотолюминесценция: лабораторный практикум. СПб: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2021. 80 с. |
 |
Искусственные нейронные сети. Практические задачиТ. Р. Жангиров, Н. А. Жукова, А. Н. Субботин, А. А. Лисс Искусственные нейронные сети. Практические задачи: учеб.-метод. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 89 с. |
 |
Техническое обслуживание базовых образцов корабельных РЭСГнипель С. А., Баранов Д. В. Техническое обслуживание базовых образцов корабельных РЭС: учеб.-метод. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 48 с. |
|
Сечение пирамидыЛысков А. И., Максимова О. В., Бурлуцкая Н. Б. Сечение пирамиды: учеб.-метод. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 32 с. |
|
Подготовка индивидуального домашнего задания (ИДЗ)Шеханов Ю. Ф. Подготовка индивидуального домашнего задания (ИДЗ): учеб.-метод. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 13 с. |
|
Моделирование технологических процессов в микроэлектроникеАлександров О. В., Дусь А. И. Моделирование технологических процессов в микроэлектронике: учеб.-метод. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 24 с. |
|
Исследование характеристик фотоэлектрических модулейВ. В. Ишин, М. Р. Ермекова, Т. П. Козулина, М. А. Ревко Исследование характеристик фотоэлектрических модулей: учеб.-метод. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 19 с. |
 |
Применение микроконтроллеров семейства ST7А. А. Ухов, Д. К. Кострин, В. А. Герасимов, Л. М. Селиванов, В. А. Симон Применение микроконтроллеров семейства ST7: учеб. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 48 с. |
|
Практика перевода. Французский и немецкий языкиСтепанова Н. В., Тихонова Е. С. Практика перевода. Французский и немецкий языки: учеб. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 48 с. |
 |
Применение характериографа для исследования вакуумных и твердотельных приборовИванов Б. В., Тупицын А. Д., Шануренко А. К. Применение характериографа для исследования вакуумных и твердо-тельных приборов: учеб. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. 98 с. |
< назад 123456789101112131415161718192021222324252627282930313233343536373839404142434445464748495051525354555657585960616263646566676869707172737475767778798081828384858687888990919293949596979899100101102103104105106107108109110111112113114115116117118119120121122123 далее >